会议日期
2024.07.03 - 2024.07.05
地点
法国 雷恩,布列塔尼
投稿截止
2024.05.01
邮箱
marcello.traiola@inria.fr
电话
包括(但不限于)以下主题:
可靠的系统设计
可靠的计算机体系结构
可靠性设计
低功耗可靠性方法设计
跨层可靠性方法
容错和故障安全系统
功能安全
自我测试与自我修复
自愈设计
自我调节设计
自适应设计
低功耗设计的可靠性问题
稳健性评估
纳米技术中的变异性、老化、 EMI 和辐射效应
数字、模拟和混合信号电路的在线测试技术
自检电路与编码理论
在线监测电流、温度、工艺变化和老化
纳米技术中的功率密度与过热问题
安全设计
......
主旨报告人:
Jyotika Athavale,新闻 IEEE计算机协会(美国) ,2024年
Robert Wille,慕尼黑技术大学(DE) ,Hagenberg 软件能力中心(AT)首席科学官
General Chairs:
Marcello Traiola,Inria Centre 雷恩大学/IRISA 实验室
Angeliki Kritikakou,雷恩大学/IRISA 实验室,法国
Emeritus Chair:
Michael Nicolaidis,TIMA, France
Program Chairs:
Alessandro Savino,都灵理工大学,意大利
Mihalis Maniatakos,纽约大学阿布扎比分校阿拉伯联合酋长国
联系方式:
投稿信息:
联系人:Alessandro Savino(都灵理工大学,意大利)
邮箱:alessandro.savino@polito.it
联系人:Michail Maniatakos(纽约大学阿布扎比分校阿拉伯联合酋长国)
邮箱:michail.maniatakos@nyu.edu
一般信息:
联系人:Marcello Traiola(Inria Centre 雷恩大学/IRISA 实验室)
邮箱:marcello.traiola@inria.fr
联系人:Angeliki Kritikakou(雷恩大学/IRISA 实验室,法国)
邮箱:angeliki.kritikakou@irisa.fr
包括(但不限于)以下主题:
可靠的系统设计
可靠的计算机体系结构
可靠性设计
低功耗可靠性方法设计
跨层可靠性方法
容错和故障安全系统
功能安全
自我测试与自我修复
自愈设计
自我调节设计
自适应设计
低功耗设计的可靠性问题
稳健性评估
纳米技术中的变异性、老化、 EMI 和辐射效应
数字、模拟和混合信号电路的在线测试技术
自检电路与编码理论
在线监测电流、温度、工艺变化和老化
纳米技术中的功率密度与过热问题
安全设计
......
主旨报告人:
Jyotika Athavale,新闻 IEEE计算机协会(美国) ,2024年
Robert Wille,慕尼黑技术大学(DE) ,Hagenberg 软件能力中心(AT)首席科学官
General Chairs:
Marcello Traiola,Inria Centre 雷恩大学/IRISA 实验室
Angeliki Kritikakou,雷恩大学/IRISA 实验室,法国
Emeritus Chair:
Michael Nicolaidis,TIMA, France
Program Chairs:
Alessandro Savino,都灵理工大学,意大利
Mihalis Maniatakos,纽约大学阿布扎比分校阿拉伯联合酋长国
联系方式:
投稿信息:
联系人:Alessandro Savino(都灵理工大学,意大利)
邮箱:alessandro.savino@polito.it
联系人:Michail Maniatakos(纽约大学阿布扎比分校阿拉伯联合酋长国)
邮箱:michail.maniatakos@nyu.edu
一般信息:
联系人:Marcello Traiola(Inria Centre 雷恩大学/IRISA 实验室)
邮箱:marcello.traiola@inria.fr
联系人:Angeliki Kritikakou(雷恩大学/IRISA 实验室,法国)
邮箱:angeliki.kritikakou@irisa.fr
2025.04.16 - 2025.04.18 新加坡 新加坡
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泰国 曼谷
投稿截止 2024.10.30
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克罗地亚 萨格勒布
投稿截止 2024.10.30
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日本 东京
投稿截止 2024.10.10
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中国 北京
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