会议日期
2024.07.03 - 2024.07.05
地点
法国 雷恩,布列塔尼
投稿截止
2024.05.01
电话
包括(但不限于)以下主题:
可靠的系统设计
可靠的计算机体系结构
可靠性设计
低功耗可靠性方法设计
跨层可靠性方法
容错和故障安全系统
功能安全
自我测试与自我修复
自愈设计
自我调节设计
自适应设计
低功耗设计的可靠性问题
稳健性评估
纳米技术中的变异性、老化、 EMI 和辐射效应
数字、模拟和混合信号电路的在线测试技术
自检电路与编码理论
在线监测电流、温度、工艺变化和老化
纳米技术中的功率密度与过热问题
安全设计
......
主旨报告人:
Jyotika Athavale,新闻 IEEE计算机协会(美国) ,2024年
Robert Wille,慕尼黑技术大学(DE) ,Hagenberg 软件能力中心(AT)首席科学官
General Chairs:
Marcello Traiola,Inria Centre 雷恩大学/IRISA 实验室
Angeliki Kritikakou,雷恩大学/IRISA 实验室,法国
Emeritus Chair:
Michael Nicolaidis,TIMA, France
Program Chairs:
Alessandro Savino,都灵理工大学,意大利
Mihalis Maniatakos,纽约大学阿布扎比分校阿拉伯联合酋长国
联系方式:
投稿信息:
联系人:Alessandro Savino(都灵理工大学,意大利)
联系人:Michail Maniatakos(纽约大学阿布扎比分校阿拉伯联合酋长国)
一般信息:
联系人:Marcello Traiola(Inria Centre 雷恩大学/IRISA 实验室)
联系人:Angeliki Kritikakou(雷恩大学/IRISA 实验室,法国)
包括(但不限于)以下主题:
可靠的系统设计
可靠的计算机体系结构
可靠性设计
低功耗可靠性方法设计
跨层可靠性方法
容错和故障安全系统
功能安全
自我测试与自我修复
自愈设计
自我调节设计
自适应设计
低功耗设计的可靠性问题
稳健性评估
纳米技术中的变异性、老化、 EMI 和辐射效应
数字、模拟和混合信号电路的在线测试技术
自检电路与编码理论
在线监测电流、温度、工艺变化和老化
纳米技术中的功率密度与过热问题
安全设计
......
主旨报告人:
Jyotika Athavale,新闻 IEEE计算机协会(美国) ,2024年
Robert Wille,慕尼黑技术大学(DE) ,Hagenberg 软件能力中心(AT)首席科学官
General Chairs:
Marcello Traiola,Inria Centre 雷恩大学/IRISA 实验室
Angeliki Kritikakou,雷恩大学/IRISA 实验室,法国
Emeritus Chair:
Michael Nicolaidis,TIMA, France
Program Chairs:
Alessandro Savino,都灵理工大学,意大利
Mihalis Maniatakos,纽约大学阿布扎比分校阿拉伯联合酋长国
联系方式:
投稿信息:
联系人:Alessandro Savino(都灵理工大学,意大利)
联系人:Michail Maniatakos(纽约大学阿布扎比分校阿拉伯联合酋长国)
一般信息:
联系人:Marcello Traiola(Inria Centre 雷恩大学/IRISA 实验室)
联系人:Angeliki Kritikakou(雷恩大学/IRISA 实验室,法国)

2026.12.18 - 2026.12.20 中国 南京

2026.12.29 - 2026.12.31 中国 广州

2026.11.03 - 2026.11.05 意大利 巴里

2026.09.25 - 2026.09.27 法国 巴黎

2026.04.17 - 2026.04.19
中国 南京
投稿截止 2026.02.25

2026.04.17 - 2026.04.19
中国 武汉
投稿截止 2026.03.05

2026.04.17 - 2026.04.19
日本 郡山
投稿截止 2026.03.05

2026.04.24 - 2026.04.26
中国 成都
投稿截止 2026.03.15